冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種用于測試材料和產(chǎn)品在極端溫度變化下性能和耐受能力的設(shè)備。它能夠模擬快速的溫度變化，以評估材料在高溫和低溫交替環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性。這種試驗(yàn)通常用于電子產(chǎn)品、汽車部件、航空航天、塑料和金屬材料等領(lǐng)域。

 

冷熱沖擊試驗(yàn)箱對測試品的影響主要包括物理變化、化學(xué)變化和電性能影響。‌

 

一、物理變化

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1.材料變形和破裂‌：不同材料在受到溫度沖擊時(shí)，由于收縮系數(shù)不同，可能會導(dǎo)致材料變形或破裂。例如，玻璃小瓶和光學(xué)儀器可能會碎裂，運(yùn)動部件可能會卡緊或松馳，爆炸物中的固態(tài)裝藥或藥柱可能會產(chǎn)生裂紋‌。

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2.機(jī)械性能變化‌：在低溫環(huán)境下，材料的硬度、強(qiáng)度等力學(xué)性能可能會發(fā)生變化。例如，塑料產(chǎn)品可能會變脆，金屬材料則可能會變得更加脆弱，延展性降低‌。

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3.密封性能失效‌：低溫沖擊可能會導(dǎo)致密封性能或密封墊圈失效，密封容器內(nèi)的產(chǎn)品可能會受到濕氣、灰塵等的侵入，影響產(chǎn)品的正常使用和壽命‌。

 

二、化學(xué)變化

‌1.化學(xué)試劑保護(hù)失效‌：在溫度沖擊下，化學(xué)試劑的保護(hù)層可能會失效，導(dǎo)致化學(xué)試劑分離或性能下降‌。

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2.電解質(zhì)變化‌：電池在低溫下容量可能會減少，續(xù)航能力降低；半導(dǎo)體器件的導(dǎo)電性能可能會改變，導(dǎo)致設(shè)備工作不穩(wěn)定甚至出現(xiàn)故障‌。

 

三、電性能影響

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1.電子元器件變化‌：電子元器件在溫度沖擊下可能會出現(xiàn)性能下降的情況。例如，電池的容量減少，半導(dǎo)體器件的導(dǎo)電性能改變，電線電纜的絕緣性能降低，增加漏電和短路的風(fēng)險(xiǎn)‌。

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2.快速冷凝水或結(jié)霜‌：在溫度快速變化時(shí)，可能會形成冷凝水或結(jié)霜，導(dǎo)致電子或機(jī)械故障‌。